Civil Electrical Products equipment,electronic components,household appliances,etc.
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試驗(yàn)項(xiàng)目 Test items
力學(xué)環(huán)境:獅動(dòng)、機(jī)械冷擊、自由跌落、道維等
氣候環(huán):懂定溫溫度，高低溫很環(huán)、溫?zé)岬隆⒆贤饩€光預(yù)、低氣壓、濟(jì)而等生物及化學(xué)環(huán)壤;砂寶、酷霸、雷黃等
綜合環(huán)境:高低溫低氣壓、溫廢·溫度·低氣壓 服動(dòng)號(hào)
Mechanical.mvironment: Virston,Mechanticat Sheo,Free fal,.Clieate Cobkonete
Clmate tmwironment: Constant Temperahune and amony.Terngerahuce Cycling. Temperature and Humdity Cyeling ttraolat higet, lon ae persse Rain.ete
Bological and Chemcattmronnast: Sand,Sait soray,Msid ete
Comprehensive Eimearonment: tamperture and hn aer prettune,sempers fue-hudity low an preshune wbeation ant so.on
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試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) Test standard
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GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品基本城試他程程試他人性流試險(xiǎn)方法
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GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品基本材境試治規(guī)程試的8:高溫試油方活
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GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)維試結(jié)規(guī)理試時(shí)Ca 幅定潭熱試助方法
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GB/T2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試他程程試能06:交查溫?zé)嵩嚨姆椒?nbsp;
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GB/T2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試物Cb:設(shè)備用恒定溫?zé)嵩囼?yàn)方法
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GB/T2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)J和導(dǎo)到:長(zhǎng)需
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GB/T2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試獨(dú)規(guī)程試獨(dú)Ka:鹽需試輸方法
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GB/T2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試動(dòng)經(jīng)程試銷K2:服務(wù),交交(武化銷港淮)
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GB/T2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)投程試腦Kc拉維點(diǎn)和造接件的二氧化腦試裝方法
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GB/T2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試能成程試股Kd:頻越點(diǎn)和道理件的輔化量試股方法
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GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試腦方法
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GB/T2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)埂試驗(yàn)規(guī)程試股N道度交化試輸方法
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GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試險(xiǎn)規(guī)程試獨(dú)5:模應(yīng)地面上的太陽鋪時(shí)
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GB/T2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試Z/AM:經(jīng)溫/任氣壓建合試動(dòng)
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GB/T2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試臉發(fā)程試腦Z/BM:建溫/低氣壓旗合試驗(yàn)
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GB/T2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試檢規(guī)程試的Z(AMD:性溫/但氣壓/道熱連樓綜臺(tái)試驗(yàn)
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GB/T2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試經(jīng)視程試輸Z/(AD:送度/理度組臺(tái)銷環(huán)試驗(yàn)方法
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GB/T2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)堆試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AR:數(shù)地和參散熱試軸樣品的性溫/推動(dòng)(正體)綜合試銷方法
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GB/T2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)ZBF-數(shù)機(jī)和非數(shù)熱樣品的高溫/報(bào)動(dòng)(正獨(dú))綜合試的方法
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GB/T2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)L秒塵試輸方法
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GB/T2423.38-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試腦規(guī)程試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方進(jìn)
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GB/T2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試臉規(guī)程低溫/然氣壓/播動(dòng)(正鎮(zhèn))媒合試驗(yàn)方法
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電工電子產(chǎn)品基本環(huán)埔試驗(yàn)規(guī)程試馳XC:流體河染
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電工期子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試特Z-Abmht溫度(低溫,高溫)，低氣壓，顏動(dòng)(隨機(jī))綜合
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GB/T2423.54-2005
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GB/T2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試獨(dú):溫度(低溫,高源)，低氣團(tuán),攝動(dòng)(證位)綜合
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GB/T2423.59-2008
