電子元器件篩選主要設(shè)備
電子元器件概述
電子元器件：電子元件和電子器件的總稱，是機(jī)器、儀器的組成部分。
電子元件：又叫被動元件，顧名思義，沒有源，只是對外界信號的響應(yīng)，電阻、電容、電感、磁環(huán)、變壓器、熔斷器、晶振、諧振，接插件，線纜等等；
電子器件：又叫有源器件，即內(nèi)部實(shí)際上是有一個(gè)“電源”，使用中要加一個(gè)外界電源和一個(gè)外界信號，可起到對信號放大，處理等功能；包括分立器件，集成電路，機(jī)電類器件。
分立器件：可以理解為在單一功能下不可再拆分的電子器件，二/三極管，晶體管，光電二極管，發(fā)光二極管，激光二極管……
集成電路：簡單理解由兩個(gè)以上分立器件組成電路，主要包括模擬集成電路，數(shù)字集成電路，數(shù)?；旌霞呻娐?。
模擬集成電路：運(yùn)算放大器，模擬乘法器，電源基準(zhǔn)，放大器，濾波器，反饋電路，光耦等。
數(shù)字集成電路：處理器，單片機(jī)，比較器，TTL，存儲器，F(xiàn)PGA，DSP等。
混合集成電路：AD/DA、集成芯片模塊等。
機(jī)電類器件：繼電器，MEMS等。
電子元器件篩選主要設(shè)備
一、電子元器件篩選電測試主要設(shè)備
阻抗分析儀、高阻計(jì)、耐壓測試儀、半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)、高精度圖示儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、頻譜分析儀、數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)、模擬集成電路測試系統(tǒng)、繼電器測試系統(tǒng)、LCR、電源模塊測試系統(tǒng)等。
電子元器件篩選電測試覆蓋產(chǎn)品
元件（阻容感、磁珠等）、分立器件、數(shù)字/模擬集成電路、線纜/連接器、繼電器、晶振/晶諧、濾波器、電源模塊等。
二、環(huán)境、應(yīng)力篩選主要設(shè)備
1. 高低溫試驗(yàn)箱：熱循環(huán)試驗(yàn)；
2. 振動臺-振動試驗(yàn)；
3. 恒定加速度試驗(yàn)臺：恒定加速度試驗(yàn)；
4. 可編程電源：電壓、功率老煉試驗(yàn)；
5. 電子負(fù)載：電流、功率老煉；
6. 顆粒碰撞噪聲測試儀。
環(huán)境應(yīng)力篩選能力主要覆蓋：
1. 掃頻/隨機(jī)振動；
2. 低溫/高溫存儲；
3. 溫度循環(huán)；
4. 恒定加速度；
5. 粒子碰撞噪聲檢測（PIND）。
三、壽命/老化/老煉試驗(yàn)的主要設(shè)備
1. 單片集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)；
2. 混合集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)；
3. 電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng)；
4. 晶體振蕩器高溫老化測試系統(tǒng)；
5. 分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng)；
6. 分立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)；
7. 電容器高溫老煉檢測系統(tǒng)；
8. 大功率晶體管老煉檢測系統(tǒng)；
9. 繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)；
10. 繼電器中電平壽命篩選系統(tǒng)；
11. 繼電器高電平壽命篩選系統(tǒng)。
壽命篩選能力主要覆蓋：
電容器、分立器件（二極管、晶體管等）、數(shù)字/模擬集成電路、繼電器、晶振/晶諧、濾波器、電源模塊。
四、外觀檢查的主要設(shè)備
1. 光學(xué)顯微鏡；
2. 金相顯微鏡。
五、密封檢測主要設(shè)備
1. 氦質(zhì)譜檢漏儀；
2. 碳氟化合物粗檢漏儀。
六、X射線照相的主要設(shè)備
X-RAY透射系統(tǒng)。
X射線篩選能力主要覆蓋：
1. 內(nèi)部無損檢測；
2. 內(nèi)部缺陷測試。
七、掃描聲學(xué)顯微鏡檢查的主要設(shè)備
聲掃檢測設(shè)備：超聲掃描顯微鏡。
