一、產(chǎn)品用途
適用于對(duì)電工、電子、機(jī)械以及大型零部件、半成品、成品等進(jìn)行高低溫、濕熱試驗(yàn)。模擬溫濕度變化條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件等進(jìn)行品質(zhì)及可靠性測(cè)試。
二、符合標(biāo)準(zhǔn)
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A: 低溫試驗(yàn)方法;
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B: 高溫試驗(yàn)方法;
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)方法;
GB2423.4-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db: 交變濕熱試驗(yàn)方法;
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法;
GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db: 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則;
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備.